|
Оптическое разрешение определяется как минимальное различие между длинами волн, регистрируемое спектрометром. 
Для разделения двух спектральных линий необходимо отобразить их по крайней мере в 2 элементах светочувствительной детекторной матрицы.
Основным параметром оптического разрешения спектрометра является дисперсионная способность дифракционной решётки (Grating), свойства которой предопределяют как ширину полосы света, падающего на многоэлементную детекторную матрицу, так и её спектральные характеристики. Чем больше штрихов/мм у дифракционной решетки, тем выше разрешение. Для любой дифракционной решетки оптической разрешение улучшается с увеличением длины волны.
Другой важный параметр - ширина входящего в оптоволоконный спектрометр светового луча. В общем случае ширина луча определяется шириной оптической щели (Slit) на входе спектрометра или диаметром оптического волокна, когда входная щель отсутствует.
Изображение щели на поверхности детектора перекрывает множество светочувствительных элементов:
Для оптического разрешения нескольких спектральных линий требуется, чтобы количество светочувствительных элементов оптического детектора в поле изображения щели по крайней мере на единицу превышало число разрешаемых линий.
При использовании оптоволоконных кабелей большого диаметра оптическое разрешение спектрометра может быть повышено установкой оптических щелей, ширина которых меньше диаметра оптического волокна
Оптическое разрешение каналов спектрометра, зависящее от типа установленной дифракционной решётки и эффективной ширины пучка входящего света, представлено в таблице.
| |
|
Оптическое разрешение* |
| Канал |
Характеристика дифракционной решетки(штрихов/мм) /
размер щели (мкм) |
Дифракционной решетки |
Системы "решетка+щель" |
| Slave3 |
1200 / 10 |
0,12 - 0,08 |
0,18 - 0,12 |
| Slave2 |
1800 / 10 |
0,08 - 0,05 |
0,11 - 0,07 |
| Slave1 |
2400 / 25 |
0,06 - 0,03 |
0,14 - 0,08 |
| Master |
3600 / 25 |
0,03 - 0,02 |
0,08 - 0,04 |
* Оптическое разрешение спектрометра в этой таблице определяется как FWHM (Full Width Half Maximum), представляемое шириной пика в нм на уровне 50% максимальной интенсивности.
|
