Оптическое разрешение определяется как минимальное различимая длина волны, разрешаемая спектрометром. ![](../img/b.gif)
Для разделения двух спектральных линий необходимо отобразить их по крайней мере в 2 элементах светочувствительной детекторной матрицы ![](../img/b.gif)
Основным параметром функции оптического разрешения спектрометров является дисперсионная способность дифракционной решётки, дисперсионные свойства которой предопределяют как ширину полосы света, падающего на многоэлементную детекторную матрицу, так и её спектральные характеристики. Чем больше штрихов/мм у дифракционной решетки, тем выше разрешение. Чем больше длинна волны, тем выше оптическое разрешение. ![](../img/b.gif)
Другой важный параметр - ширина входящего в оптоволоконный спектрометр светового луча. В общем случае ширина луча определяется шириной оптической щели на входе спектрометра или диаметром оптического волокна, когда входная щель отсутствует. ![](../img/b.gif)
Изображение щели на поверхности детектора перекрывает множество светочувствительных элементов ![](../img/b.gif)
Для оптического разрешения нескольких спектральных линий требуется, чтобы количество светочувствительных элементов оптического детектора в поле изображения щели по крайней мере на единицу превышало число разрешаемых спектров. ![](../img/b.gif)
При использовании оптоволоконных кабелей большого диаметра оптическое разрешение спектрометра может быть повышено установкой оптических щелей, ширина которых меньше диаметра оптического волокна ![](../img/b.gif)
Оптическое разрешение каналов спектрометра, зависящее от типа установленной дифракционной решётки и эффективной ширины пучка входящего света, представлено в таблице. ![](../img/b.gif)
|
|
Optical resolution* |
Channel |
Grating (lines/mm) / Slit size (mkm) |
Grating only |
Grating+Slit |
Slave3 |
1200 / 10 |
0,12 - 0,08 |
0,18 - 0,12 |
Slave2 |
1800 / 10 |
0,08 - 0,05 |
0,11 - 0,07 |
Slave1 |
2400 / 25 |
0,06 - 0,03 |
0,14 - 0,08 |
Master |
3600 / 25 |
0,03 - 0,02 |
0,08 - 0,04 |
![](../img/b.gif)
* Оптическое разрешение спектрометра в этой таблице определяется как F (ull) W (idth) H (alf) М (aximum), представляемое шириной пика в нм на уровне 50% максимальной интенсивности. ![](../img/b.gif)
![](../img/b.gif)
|